Grundlagen von SPC - Statistische Methoden zur Prozesssteuerung

Kursziele

Die Teilnehmer werden mit der Methode der statistischen Prozesssteuerung (SPC) vertraut gemacht. Sie erlernen die Grundlagen der Datensammlung und -auswertung für kontinuierliche und attributive Daten mithilfe von Kontrollkarten. Sie lernen, die Prozessfähigkeit (Cpk, Ppk) kurz- und langfristig sowie die Maschinenfähigkeit (Cmk) gemäß den Anforderungen des AIAG-Handbuchs für SPC, 2. Auflage, zu bewerten.

Inhalt des Kurses

• Definition und Zweck von SPC
• Anwendung und Geschichte von SPC, Effektivität von SPC in der Praxis
• Grundbegriffe in SPC, Normalverteilung, Mittelwert, Standardabweichung, andere statistische Verteilungen
• In der Praxis verwendete statistische Werkzeuge - Pareto-Analyse, Laufdiagramm, Histogramm, Boxplot, multivariate Analyse
• Korrelationsdiagramm, Arten von Korrelationen, Erstellung und Analyse von Kontrollkarten
• Statistische Prozesskontrolle für kontinuierliche Daten (Methoden und Beispiele) - Xbar-R, Xbar-S, I-MR-Kontrollkarten
• Statistische Prozesskontrolle für attributive Daten (Methoden und Beispiele) - C, U, NP, P-Diagramme
• Übung für Kursteilnehmer - Auswahl des richtigen Typs von Kontrollkarten
• Analyse der Prozess- und Anlagenfähigkeit - Einfluss von lang- und kurzfristigen Daten, Berechnung und Interpretation von Prozessfähigkeitsindizes Cp, Cpk, Ppk und Maschinenfähigkeitsindizes Cmk
• Prozessfähigkeit, Kennzahlen und Indizes für diskrete Daten (DPU, DPMO, ppm)
• Lösung von SPC-Problemen mit spezialisierten Softwaretools vs. MS Excel
• Praktische Übungen

Zielgruppe

• Qualitätsmanager
• Qualitätsingenieur
• Prozessingenieur
• Produktionsleiter
• LEAN Manager
• Metrologe

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